一、產(chǎn)品介紹
半導體缺陷檢測系統(tǒng)由我司自主研發(fā)，該系統(tǒng)集本公司在機器視覺工業(yè)檢測領(lǐng)域多年技術(shù)積累，同時結(jié)合時下最新的用戶特點及實際需求而推出。產(chǎn)品具有集成度高，操作簡便，設(shè)置靈活，穩(wěn)定可靠等優(yōu)點。本產(chǎn)品適用半導體、網(wǎng)絡(luò)變壓器等管腳類電子產(chǎn)品檢測對象，規(guī)定了我司半導體系列產(chǎn)品的檢測指標精度。其他技術(shù)要求均適用于我司半導體檢測系列的全系產(chǎn)品。
二、視覺檢測優(yōu)勢 
1、檢測結(jié)果標準，可量化，排除了半導體檢測結(jié)果受檢測人員主觀意愿、情緒、視覺疲勞等人為因素的影響，可信度高；
2、速度快、效率高、成本低，機器視覺檢測能達到15PCS/s，提高了生產(chǎn)率，同時也節(jié)約了人力成本；
3、獨特的3D結(jié)構(gòu)光成像原理，多面成像檢測，3D投影圖像然后對原始管腳和其投影分別檢測引腳長寬、間距、跨距、共面度和共線度。
三、檢測指標：
四、半導體檢測缺陷類型
本系統(tǒng)采用四個相機，分為四個工位對半導體芯片進行檢測，分別是：
1、方向工位檢測；
2、鐳射（印字）工位檢測；
3、3D工位檢測；
4、編帶工位檢測。
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